高周波対応テストソケット
特徴
- SOP、SSOP、TSOP、QFP、QFN、SON用高周波対応テストソケット
- コンタクトピッチ0.4mm〜1.27mmまで対応可能
- テストシステムに応じて、ラッチタイプカバーの有無、クラムシェルタイプの蓋式を選択可能
- 表面実装方式により、ソケットの着脱容易性を実現。また、インターポーザー(YFLEXTM)の使用により、テストボードの保護と長寿命化が可能
Y-シェイプタイプコンタクト
コンタクトシェイプ
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